News Center
News Center
News Center
近期，两篇 Nature Communications 与一篇 Advanced Energy Materials 研究中，科研人员借助 easyXAFS 台式 X射线吸收精细结构谱系统，在常规实验室环境下获得高质量 XAFS 数据，并将其用于核心机理验证：Fe K-edge XANES、FT-EXAFS 与 WT-EXAFS 揭示等离激元近场诱导的稳态高自旋结构；operando Ir L₃-edge XAFS 直接捕捉非晶 IrTiOx 活性位点随电位变化的动态响应；Zn/Cu K-edge XANES、FT-EXAFS 与 WT-EXAFS 则解析 ZnO/CuO 异质界面的局域配位与强界面作用。
查看详情
本次报告中我们将展示使用全自动、超低振动的变温显微拉曼和光致发光测试平台在整个温度范围(4K - 500K)对二维材料的高分辨率、高效率的光谱测量和二维成像测试结果。
查看详情 >>
本次报告将为大家介绍NV色心扫描显微镜的基本原理，Qzabre公司的QSM系统的特点以及相关应用案例介绍，如新型磁存储器、MRAM材料、石墨烯、集成电路计量、磁开关、失效分析和信号传输等方面应用，希望能给您在相关领域内的研究带来帮助。
查看详情 >>
华盛顿大学的曹国忠教授等人使用实验室台式XAFS研究了三种不同的类型导电聚合物(Vö-V2O5/PANI, Vö-V2O5/PEDOT和Vö-V2O5/PPy)包裹的V2O5纳米纤维在聚合过程中在界面处生成ö的情况。研究人员将XAFS和XPS技术有机结合起来，全面的阐述了Vö在表面层和体中的存在及其对电化学的影响，这种改善的电极材料的电荷转移动力学有望用于下一代储能系统中。
查看详情 >>
近期，瑞士洛桑联邦理工学院 Juergen Brugger教授团队回顾了热扫描探针刻写技术的现状，综述收集汇总了热探针刻写的工作和文献，介绍了t-SPL的原理和应用案例及纳米制备相关参数。探讨了t-SPL在纳米制备的功能和局限。力求为科研工作者在纳米制备方面提供一个有关t-SPL的知识数据库。
查看详情 >>
本期报告将结合PPMS系统电学、热学测量选件以及多种样品杆选件从原理和使用技巧出发为大家解读电学输运、热学输运、比热容相关测量。
查看详情 >>
本次报告，来自GETec Microscopy公司的Chris H. Schwalb博士将结合多个动态视频以及来自实验室和高校的研究结果，向大家展示SEM与原位AFSEM联用的技术优势和特点，并介绍其在纳米结构电学与磁学表征中的新前沿应用。
查看详情 >>
