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高分辨原位电池电荷成像系统-illumionONE由剑桥大学团队研发，可实现单颗粒原位动态观测、毫秒级瞬态过程捕捉、联动微观 - 宏观数据开展一体化分析，告别了传统大型仪器成本高、操作复杂、无法追踪单颗粒行为等难题，让电池内部离子运动、颗粒形貌变化等微观过程直观可测。日前，围绕该设备开展的原位电池单颗粒动态成像技术-电荷光度法研讨会已圆满落幕，本次会议汇聚了清华大学、复旦大学、上海交通大学等国内多所高校的学者，现场交流氛围热烈。剑桥大学资深技术团队亲临现场，深度讲解电荷光度法、光学干涉散射显微镜核心原理，并完整演示了设备实操与数据分析流程。
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本次报告，来自GETec Microscopy公司的Chris H. Schwalb博士将结合多个动态视频以及来自实验室和高校的研究结果，向大家展示SEM与原位AFSEM联用的技术优势和特点，并介绍其在纳米结构电学与磁学表征中的新前沿应用。
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在本报告中，我们将结合来自《nature》等期刊的新文献，介绍一种颠覆性技术，它采用非接触式方式，快速准确且高效的实现大尺寸石墨烯等二维材料的无损测量，得到电导率、电阻率、载流子和均匀性等分布信息。
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仪器信息网主办的2019年度科学仪器“优秀新品奖”于5月20日隆重举行，Quantum Design中国新引进的微秒级时间分辨超灵敏红外光谱仪，凭借其独特的设计理念及的性能，高达1 μs时间分辨的红外光谱快速测量，经过评审专家严格筛选，层层选拔，终突破重围，荣获2019年度科学仪器“优秀新品奖”。
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本报告，美国加州大学河滨分校和特拉华大学博士后唐红杰将从台式低压透射电子显微镜的技术和特点角度出发，来讨论低压台式电子显微镜在图像成像效果，操作方法等方面带来的巨大改变及其潜在优势，并结合其在二维材料、纳米颗粒、碳纳米管、纳米医学、高分子、细胞生物学等领域的应用进行详细解析，希望对广大科研人员有所帮助。
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本次报告，Advance Riko公司的齐藤利文先生将介绍多款热电相关测试设备，包括测量材料塞贝克系数/电阻的测试系统ZEM、测量热电转换模块的热电转换效率的测试系统PEM、小型模块热电转换效率测试系统Mini-PEM等，还将带来ADVANCE RIKO公司新开发的聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d的介绍。
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本次报告中Christophe Leterrier教授将重点介绍通过单分子定位成像技术研究神经元的结构与功能，通过观测神经元网格蛋白，研究其缓慢传输和突触前靶向机制。
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