easyXAFS公司台式X射线吸收精细结构谱/发射谱仪，采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，以超高灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。此外，该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES)，该表征本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以对样品的局部电子结构实现信息互补。广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。
可以研究超导体材料的物质结构基础，电子相关性问题，原子尺度上的局域结构以及掺杂或加压后的价态变化等。
easyXAFS 设备特点
- 无需同步辐射光源，实验室内实现XAFS和XES自由
- 1台设备兼具XAFS（透射+荧光）和XES功能
- 科研级谱图效果，与同步辐射光源数据高度一致
- 适用于催化/电池/能源/陶瓷/地质/环境/核化学
- 具有原位测试拓展性
- 操作便捷，维护成本低
- 用户超200套！
easyXAFS 主要技术参数
- X射线源：
XAFS： 2500 W
XES： 100 W
- 能量范围：4.5 keV-25 keV
- 光通量：3M~4M photons/sec.
- 分辨率：0.5-1.5 eV
- 可测试元素种类：近70种
案例1：XAFS研究催化剂材料的价态与局域配位环境
新加坡国立大学课题组利用easyXAFS的XAFS功能解析催化剂原子尺度结构与性能关系中的核心作用。Nat Commun 16, 3098 (2025)
案例2：XAFS表征电池材料中的单原子结构
中国科学院大学研究团队利用easyXAFS的XAFS功能表征价态变化，同时为水系锌电池中的非对称单原子Zn-N4-C配位环境提供了关键证据。Advanced Materials (2024) e2311637
案例3：XES探索高熵电池材料的氧化态和电子自旋态
研究人员利用easyXAFS的XES功能发现， 高熵材料中XES主峰（Kβ₁,₃）的能量位置直接反映金属氧化态的变化；Kβ' 卫星峰强度与金属 3d 轨道中未成对电子数直接相关，可有效区分高自旋（HS）和低自旋（LS）构型。Angew. Chem. 2024, 136, e202315371
超低含量 Ir：0.17 wt% Ir@C EXAFS与同步辐射光源高度一致
RuO2 EXAFS 与同步辐射光源高度一致
超 200 套用户，市场占有率超60%（排名不分先后）
