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视频回放| 《实验室级台式X射线发射谱(XES)的技术发展与前沿应用》


会议时间

2021年08月31日 14:00-14:30


会议地点

技术线上论坛


[报告简介]

 

X射线发射谱(XES)技术主要涉及一种二次光电子过程,通过调制入射 X 射线的能量以及通过高分辨谱仪收集器收集荧光信号,可以获得各种 X 射线发射谱。相比于常规 X射线吸精细结构谱(XAFS),XES谱图具有更高的能量分辨率,和 XAFS 方法相辅相成,从而获取全轨道的电子结构以及原子结构信息。但由于通常依赖于同步辐射X射线光源,地限制了其在各领域的大范围应用。为了突破这一限制,美国easyXAFS公司研发出了新的台式XES(XAFS300+)。该装置无需同步辐射光源,在常规实验室环境中即可实现XAFS和XES双功能测试。本报告将结合近年来实验室级台式XES谱仪的发展技术,及研究组的新实验结果,详细阐述台式XES的基本原理、技术发展及在多领域的一些应用案例,后展望其在日常实验室研究中的巨大潜力。

 

[视频回放]