UHV PAN式低温扫描探针显微镜

UHV PAN式低温扫描探针显微镜

Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的,主要特点包括:


- PAN STM/AFM扫描头体积极小(2.96”X1.55”)

- 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动(5mmX5mmX10mm)

- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围

- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统,原位针尖与样品更换

- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体

- 与RHK最新全数字R9控制器一同使用


适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。

结构紧凑,体积极小:

内置减震系统、可水平或垂直放置


Pan式低温扫描探针显微镜结构极其紧凑,核心部分尺寸在~40X70mm左右;内置有弹簧和涡流阻尼减震系统;

根据用户的要求,可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种;除此之外,它兼容常用的低温恒温器和磁体,并提供相应的集成方案。


原位样品与探针更换:

操做简单、快速;性能可靠


在低温和超高真空环境中,样品和针尖的原位更换一直是使用者非常关心的问题。为此,RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了一套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针尖更换装置,并提供了多个样品与针尖的放置室。

Pan式低温扫描探针显微镜中使用的样品架灵活多样,可充分满足各种实验要求,如原位加热、样品剥离、样品轰击等等;同时,它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配备的样品架。

兼容各种磁体和恒温器


为充分满足科学家的要求,RHK与尖端磁体和恒温器制造商紧密合作,开发了低温扫描探针显微镜整机系统和独立扫描头模块系统,根据用户的特殊要求提供了一整套的解决方案。

RHK将世界上最先进的全数字扫描探针显微镜控制器R9集成到Pan式扫描探针显微镜中,集中研发力量,推出了噪音极低的R9扫描控制系统和IVP-R9前置放大器。


主要技术参数:

- 工作模式:STM与非接触式AFM

- 温度范围:<300mK; RT; VT; HT

- X-Y-Z位移范围:5mmX5mmX10mm

- 扫描范围:5μmX5μm(RT)

- 样品尺寸:10mmX10mm

- 扫描头尺寸:40mmX70mm


Si(111)表面7X7重构,4K


Bi2Se3表面形貌,4K


部分用户名单:

- University Of Texas

- University of Maryland

- University of Chicago

- Columbia University

- Technischen Universitat Berlin

- Academica Sinica (2)

- Georgia Institute of Technology

- Weizmann Institute of Science

- Indian Association for the Cultivation of Science

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