站内搜索
产品信息 ·当前位置:首页 -> 产品信息 
PPMS系统比热测量选件      
 
 
 

   

 比热测量样品托

   

比热专用样品安装平台

    

比热测量程序界面

比热是一个重要的物理量,虽然它是一个热学量,但在电学、磁学等领域有着重要的意义。Quantum Design公司的比热测量选件是目前世界上最好的比热测量设备之一:其最低测量温度达到50mK,很容易观察样品的电子比热;其最高磁场可达16T,可以轻松胜任测量样品的磁比热。加上Quantum Design公司的专利双流阻控温技术和最新双τ模型弛豫法测量技术,用户能够非常轻松地获得完美的测量数据。

主要特征:

1、全自动的弛豫法测量技术,测量速度更快

2、艺术性的双τ模型拟合技术,更加精确地计算样品的比热

3、全自动样品托标定

4、测量程序自动进行背景比热减除

5、专用的比热样品安装平台使得安装比热样品变得更简单

6、可以配合He3制冷机和稀释制冷机选件使用

7、全自动测量过程

8、在高真空环境下完成测量

技术参数:

1、温度范围:1.9K-400K

                      配合He3制冷机可达<0.4K

                      配合稀释制冷机可达<50mK

2、磁场范围:0-16T

3、测量精度:10nJ/K @ 2K,  2%@ 2-300K(典型值)

4、比热范围:<100mJ/K

点击下方资料下载按钮下载比热测量说明手册。

 
(大小187 K)
 
   
     
copyright 2011,QUANTUM DESIGN 中国子公司 ALL RIGHTS RESERVED 京ICP备05075508号     法律声明 | 代理合作 | 管理员 | 员工通道