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超精细低温恒温器(水平高数值孔径显微镜、分光镜集成系统)      
 
 
X-plane 水平高数值孔径显微镜、分光镜集成系统可以满足用户水平共聚焦的需求,并且具有无限的开放性,为用户实现自己的光学实验提供超高真空环境。

超快温度稳定:50K温度变化幅度时,稳定时间<30S

快速样品更换:样品腔打开方便快捷,利于更换样品。

系统开放性:光学器件可定制,更换方便,与第三方器件完全无缝连接。提供大的无尘光路搭建环境,可集成分光镜。

学器件:配高性能蔡司镜头。

 
 
 
 
X-plane技术参数列表: 
 
 

性能参数

Cryo-Optic X-Plane

 

温度范围

3.4K - 350K

sample mount temperature

温度稳定性

<10mK

peak to peak (w/ damped sample mount)

震动稳定性

<5nm

peak to peak

<50nm

with positioners

降温至4.2K所需时间

~2.5hrs

 

温度稳定所需时间

<1 min

w/ ATSM for 50K temp change

位置温漂

<1μm / degree

During cool down

<100nm

When stable

光学性能



光学窗口

5 optical ports

X-Plane: 4 radial (1 w/ horizontal objective) + 1 top axial in housing

数值孔径

0.75 or 0.9*

*Integrated w/ extra customization

工作距离

4mm or 310μm

0.7 NA = 3.5mm

0.9 NA = .1mm @4K

物镜型号

Zeiss 100x/0.9 DIC*

EC Epiplan-Neofluar 422392-9900

Zeiss 100x/0.75 DIC

LD EC Epiplan-Neofluar 422392-9900




电学接口

35 feedthroughs

To mini-connector terminations near sample (piezosuse 6 of these)

热沉接点

4 locations

To radiation shield

温度计

2 Calibrated Cernox

Corresponding to platform and sample temperature

Location for 1 user thermometer available

尺寸



样品空间

∅95mm x 100mm

 

(直径 x 高度)

面包板

 

25mm radiation shield lagging band

Grid of mounting holes

常配选件



接口面板

4

RF, DC, fiber or gas tube options available

压电位移器

5 x 5 x 5mm

Travel XYZ

10.5nm

Typical step size

0.8μm

Scan possible at 4K

光路技术参数



光路高度

100mm (higher options available)

样品空间

Integrated stages & ATSM*

光轴方向位置稳定性

Objective-sample displacement across 4.2-350K: <20μm

Time to stability** after 50K sample temperature change (w/ ATSM): <30 sec (over full range)

焦平面位置稳定性

Objective-sample displacement across 4.2-350K: <32μm

Time to stability** after 50K sample temperature change (w/ ATSM): <30 sec (over full range)

 
 
   
     
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