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SPM联合表面分析设备- LEED, XPS, Auger      
 

RHK Tech.公司已经和Specs公司联合起来,为全世界的科学家们提供性能最优异的SPM/表面分析联合系统。客户通过从RHK选择SPM,从Specs选择各种表面分析设备,自行设计一套表面分析系统。RHKSpecs的工程师们会对该设备进行优化、融合,以达到操作简便的目的。

RHK公司提供给渥太华大学的系统包括了:RHK AFMLEED/Auger、质谱仪以及Specs公司的XPS设备。

 
   
     
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