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高精度MOKE磁性检测系统助力中国磁随机存储技术的腾飞
 
    磁随机存储器(Magnetic Random Access Memory, MRAM)利用磁隧道结自由层磁矩取向不同引起的磁阻不同作为存储单位0和1,同时结合传统的磁存储(PMR)非易失性及静/动态随机存储器(SRAM/DRAM)读写速度快的双重优点,在科研及工业界广受欢迎,并被认为是替代传统随机存储器的下一代存储技术的潮流和趋势。随着自旋转移矩效应(Spin Transfer Torque, STT)的发现及迅速应用,长期制约MRAM由科研阶段向工业量产阶段转变的技术难点“写入困难”被成功解决,同时为了进一步提高磁随机存储器的存储密度,近年来垂直取向的磁随机存储单元-隧道结(MTJs)取代了水平取向的磁随机存储单元,与STT技术一道成为了最新的磁随机存储技术-垂直型STT-MRAM。
图1  MRAM晶圆及MTJs存储单元 
    MRAM器件化和产业化的关键是对晶圆的磁性薄膜及磁性存储单元的生长和性能实现精确控制,特别是存储单元中的核心部件磁隧道结(MTJs),磁隧道结一般由磁性各异的多层膜构成,而隧道结最终的性能又由多层膜中各层薄膜的性能所综合决定,然而MTJs的多层膜中每一层的厚度一般在几纳米至几十纳米之间,每一层的磁矩信号都非常弱(<5*10-6emu),因此需要高精度的磁性检测设备来对晶圆薄膜及磁性存储单元的磁学性能进行测试,并反过来监控和改进晶圆的生长工艺。 
图2  PKMRAM_300设备 
    美国Microsense公司的垂直磁随机存储器晶圆专用的PKMRAM_300型MOKE系统为目前少数可实现大尺寸晶圆(直径300mm)的高精度磁性检测设备,具有检测灵敏度高,测量精度高,测样速度快,设备操作高度智能化和自动化的特点,可实现无人值守式工作,因此在全球磁随机存储器研发生产单位中广受欢迎。 
图3.PKMRAM_300典型测试结果图  
    日前,国内首套PKMRAM_300正式落户杭州,将在新型磁随机存储器技术的研发及实现量产化的进程中发挥作用。祝愿此次PKMRAM_300 磁随机存储器磁检测系统的落户,能够帮助科学研究人员在磁随机存储技术领域内取得更多突破,在世界范围内占据技术领先点。
 
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